一、影響光纖熔接損耗的主要因素
影響光纖熔接損耗的因素較多，大體可分為光纖本征因素和非本征因素兩類。
1．光纖本征因素是指光纖自身因素，主要有四點。
（1）光纖模場直徑不一致；
（2）兩根光纖芯徑失配；
（3）纖芯截面不圓；
（4）纖芯與包層同心度不佳。
其中光纖模場直徑不一致影響最大，按CCITT(國際電報電話咨詢委員會)建議，單模光纖的容限標準如下：
模場直徑：（9~10μm）±10％，即容限約±1μm；
包層直徑：125±3μm；
模場同心度誤差≤6％，包層不圓度≤2％。
2．影響光纖接續(xù)損耗的非本征因素即接續(xù)技術。
（1）軸心錯位：單模光纖纖芯很細，兩根對接光纖軸心錯位會影響接續(xù)損耗。當錯位1.2μm時，接續(xù)損耗達0.5dB。
（2）軸心傾斜：當光纖斷面傾斜1°時，約產(chǎn)生0.6dB的接續(xù)損耗，如果要求接續(xù)損耗≤0.1dB，則單模光纖的傾角應為≤0.3°。
（3）端面分離：活動連接器的連接不好，很容易產(chǎn)生端面分離，造成連接損耗較大。當熔接機放電電壓較低時，也容易產(chǎn)生端面分離，此情況一般在有拉力測試功能的熔接機中可以發(fā)現(xiàn)。
（4）端面質(zhì)量：光纖端面的平整度差時也會產(chǎn)生損耗，甚至氣泡。
（5）接續(xù)點附近光纖物理變形：光纜在架設過程中的拉伸變形，接續(xù)盒中夾固光纜壓力太大等，都會對接續(xù)損耗有影響，甚至熔接幾次都不能改善。
3．其他因素的影響。
接續(xù)人員操作水平、操作步驟、盤纖工藝水平、熔接機中電極清潔程度、熔接參數(shù)設置、工作環(huán)境清潔程度等均會影響到熔接損耗的值。
二、降低光纖熔接損耗的措施
1．一條線路上盡量采用同一批次的優(yōu)質(zhì)名牌裸纖
對于同一批次的光纖，其模場直徑基本相同，光纖在某點斷開后，兩端間的模場直徑可視為一致，因而在此斷開點熔接可使模場直徑對光纖熔接損耗的影響降到最低程度。所以要求光纜生產(chǎn)廠家用同一批次的裸纖，按要求的光纜長度連續(xù)生產(chǎn)，在每盤上順序編號并分清A、B端，不得跳號。敷設光纜時須按編號沿確定的路由順序布放，并保證前盤光纜的B端要和后一盤光纜的A端相連，從而保證接續(xù)時能在斷開點熔接，并使熔接損耗值達到最小。
2．光纜架設按要求進行
在光纜敷設施工中，嚴禁光纜打小圈及折、扭曲，3km的光纜必須80人以上施工，4km必須100人以上施工，并配備6～8部對講機；另外“前走后跟，光纜上肩”的放纜方法，能夠有效地防止打背扣的發(fā)生。牽引力不超過光纜允許的80％，瞬間最大牽引力不超過100％，牽引力應加在光纜的加強件上。敷放光纜應嚴格按光纜施工要求，從而最低限度地降低光纜施工中光纖受損傷的幾率，避免光纖芯受損傷導致的熔接損耗增大。
3．挑選經(jīng)驗豐富訓練有素的光纖接續(xù)人員進行接續(xù)
現(xiàn)在熔接大多是熔接機自動熔接，但接續(xù)人員的水平直接影響接續(xù)損耗的大小。接續(xù)人員應嚴格按照光纖熔接工藝流程圖進行接續(xù)，并且熔接過程中應一邊熔接一邊用OTDR測試熔接點的接續(xù)損耗。不符合要求的應重新熔接，對熔接損耗值較大的點，反復熔接次數(shù)以3～4次為宜，多根光纖熔接損耗都較大時，可剪除一段光纜重新開纜熔接。
4．接續(xù)光纜應在整潔的環(huán)境中進行
嚴禁在多塵及潮濕的環(huán)境中露天操作，光纜接續(xù)部位及工具、材料應保持清潔，不得讓光纖接頭受潮，準備切割的光纖必須清潔，不得有污物。切割后光纖不得在空氣中暴露時間過長尤其是在多塵潮濕的環(huán)境中。
5．選用精度高的光纖端面切割器來制備光纖端面
光纖端面的好壞直接影響到熔接損耗大小，切割的光纖應為平整的鏡面，無毛刺，無缺損。光纖端面的軸線傾角應小于1度，高精度的光纖端面切割器不但提高光纖切割的成功率，也可以提高光纖端面的質(zhì)量。這對OTDR測試不著的熔接點（即OTDR測試盲點）和光纖維護及搶修尤為重要。
6．熔接機的正確使用
熔接機的功能就是把兩根光纖熔接到一起，所以正確使用熔接機也是降低光纖接續(xù)損耗的重要措施。根據(jù)光纖類型正確合理地設置熔接參數(shù)、預放電電流、時間及主放電電流、主放電時間等，并且在使用中和使用后及時去除熔接機中的灰塵，特別是夾具、各鏡面和v型槽內(nèi)的粉塵和光纖碎末的去除。每次使用前應使熔接機在熔接環(huán)境中放置至少十五分鐘，特別是在放置與使用環(huán)境差別較大的地方（如冬天的室內(nèi)與室外），根據(jù)當時的氣壓、溫度、濕度等環(huán)境情況，重新設置熔接機的放電電壓及放電位置，以及使v型槽驅動器復位等調(diào)整。
三、光纖接續(xù)點損耗的測量
光損耗是度量一個光纖接頭質(zhì)量的重要指標，有幾種測量方法可以確定光纖接頭的光損耗，如使用光時域反射儀（OTDR）或熔接接頭的損耗評估方案等。
1．熔接接頭損耗評估
某些熔接機使用一種光纖成像和測量幾何參數(shù)的斷面排列系統(tǒng)。通過從兩個垂直方向觀察光纖，計算機處理并分析該圖像來確定包層的偏移、纖芯的畸變、光纖外徑的變化和其他關鍵參數(shù)，使用這些參數(shù)來評價接頭的損耗。依賴于接頭和它的損耗評估算法求得的接續(xù)損耗可能和真實的接續(xù)損耗有相當大的差異。
2．使用光時域反射儀（OTDR）
光時域反射儀（OTDR：Optical Time Domain Reflectometer）又稱背向散射儀，其原理是：往光纖中傳輸光脈沖時，由于在光纖中散射的微量光，返回光源側后，可以利用時基來觀察反射的返回光程度。由于光纖的模場直徑影響它的后向散射，因此在接頭兩邊的光纖可能會產(chǎn)生不同的后向散射，從而遮蔽接頭的真實損耗。如果從兩個方向測量接頭的損耗，并求出這兩個結果的平均值，便可消除單向OTDR測量的人為因素誤差。然而，多數(shù)情況是操作人員僅從一個方向測量接頭損耗，其結果并不十分準確，事實上，由于具有失配模場直徑的光纖引起的損耗可能比內(nèi)在接頭損耗自身大10倍。
